Unterstützung von AS9102
(ähnlich DIN EN 9102) –
Berichterstellung für Erstmusterprüfung 

Die Funktion bietet Ihnen einen klaren und präzisen Ansatz für das Ausfüllen von Erstmusterprüfberichten vor dem Fertigungsprozess. Sie umfasst die Formulare 1, 2 und 3 und Optionen für den Export in Excel oder PDF.

Anzeige verpasster Prüfungen in Form von Metriken

Anzeige von auf Lauf, Prüfplan, Station und Intervall (Zeit) basierenden Metriken zu verpassten Datenerfassungsvorgängen in Process Manager          

Datentransformation

Daten unterschiedlicher Messquellen können vor dem Speichern und Anzeigen von Ergebnissen umgewandelt werden. Mithilfe dieser Funktion lassen sich Einheiten umwandeln und Dezimaltrennzeichen verschieben, wodurch sich der Vorgang der Datenerfassung noch einfacher gestaltet.

Annahmestichprobenprüfung

Die Funktion der Annahmestichprobenprüfung in MeasurLink^® dient der Berechnung der korrekten Anzahl von Stichproben sowie der Annahme bzw. Ablehnung von Chargen auf der Grundlage von Normen (C=0 oder ANSI Z1.4). Außerdem können OC-Kurven zur Risikobewertung angezeigt und
Daten in Excel oder PDF exportiert werden.

Dynamische Lauf-Auswahl

Diese Funktion dient einer verbesserten Bericht-erstellung. Sie versetzt Benutzer in die Lage, basierend auf Filterkriterien Berichte für mehrere Läufe an unter-schiedlichen Stationen, für verschiedene Werkstücke und Prüfpläne zu erstellen. Es können entweder alle bestimmten Filterkriterien entsprechenden Läufe
in einen einzigen Bericht ausgegeben oder ein einzelner Bericht pro Lauf erstellt werden.

MQTT JSON

Das M2M-Kommunikationsprotokoll (Machine-to-Machine) für industrielle Automatisierung wird unterstützt. Ähnlich wie bei RS-232-Geräten können die Mess-, Rückverfolgbarkeits- und Seriennummer erfasst werden.

• Das visuelle Benutzererlebnis von MeasurLink^® wurde modernisiert. Symbole, Fenster und Arbeitsbereiche erscheinen in einem modernen glatteren Design mit weniger, aber dafür konsistenteren Farben. Diagrammhintergründe, Anzeigepunkte in Diagrammen und Histogrammbalken besitzen nun ein individuelles Farbschema (ohne Farbverlauf).

• Aktive Befehle von Eingabegeräten können jetzt von HID-Geräten an MeasurLink^® gesendet werden, z. B. die Verwendung eines Barcode-Scanners zum Öffnen eines Prüfplans.
   
• Eine neue Berichtsseite zur Anzeige des Verlaufs der elektronischen Signatur eines Laufs wurde dem Abschnitt „Merkmals-unabhängig“ der MeasurLink^®-Berichte hinzugefügt.

• Wenn das Dialogfeld zum Aktualisieren der Datenbankversion angezeigt wird, hat der Benutzer jetzt die Möglichkeit, die Verbindung zu ändern, um das Aktualisieren einer Datenbank zu vermeiden, die nicht aktualisiert werden sollte (z. B. zwecks Wechsel von einer Produktions- zu einer Test- oder QA-Datenbank).

• Das Konzept des Lauftyps wurde mit Werten für SPC-Lauf (dies ist die Laufstruktur früherer Versionen von MeasurLink^®), Erstmuster-prüfung, Annahmestichprobenprüfung oder einen gemischten Typ (Kombination der ersten drei) hinzugefügt. Für jeden Lauftyp wurden spezifische Symbole hinzugefügt, und entsprechende Baumansichten lassen sich auch nach diesem neuen Typ gruppieren.

• In Report Scheduler, Process Analyzer und Process Manager ist nun ein stärkeres Filtern
  in der Baumstruktur möglich. Eine fort-schrittlichere Benutzererfahrung bietet die Möglichkeit, komplexere Baumstrukturen zu erzielen, wodurch es einfacher wird, nur die gewünschten Daten zu identifizieren und mit diesen zu arbeiten. Zu den Filterkriterien gehören mehrere logische Operanden,
  eine erhöhte Anzahl von Filtertypen und Gruppierungssteuerelemente, die eine optimierte Operatorrangfolge ermöglichen. Filter können einschließend oder ausschließend sein.

• XquerR- und XquerS-Diagramme können
  in „Regenbogen“-Diagramme konvertiert werden, indem die Sigmabereichslinien einbezogen und die Bereiche optional um
  ein Farbschema ergänzt werden.
   
• Beim Anzeigen oder Drucken eines Diagramms, das gefilterte Daten enthält,
  in der Wahrscheinlichkeitsansicht oder der klassischen Ansicht werden die Filterkriterien oben im Diagramm angezeigt.

Digitale Messgeräte

Mehrstellenmessvorrichtungen

Koordinatenmessgeräte (KMGs)

Bildverarbeitungs-, Oberflächen-
und Rundheitsmessgeräte

Kostenreduzierung in
Bezug auf Inspektion,
Nacharbeit und Ausschuss

Sicherstellung
der Qualität und
Konsistenz von
Werkstücken

Erhöhung von
Datentransparenz und
-zugänglichkeit

Mehr Benutzerfreundlichkeit
für Inspektionen in allen
Umgebungen

Weniger Fertigungs-
fehler durch statistische
Prozesskontrolle
(SPC) in Echtzeit